La diffraction des rayons X est basée sur l'interaction d'un faisceau monochromatique de rayons X avec les atomes d'un matériau solide cristallisé (dont l'organisation atomique présente un ordre à longue distance). Les plans cristallographiques dans lesquels sont répartis les atomes ont la capacité, dans des conditions particulières, à « réfléchir » le rayonnement X. C'est le phénomène de diffraction.
Ainsi en orientant judicieusement un faisceau de rayons X par rapport à l'échantillon étudié et en positionnant judicieusement le détecteur, on peut capter le signal diffracté par une famille de plans cristallins de l'échantillon.
Les conditions de diffraction sont données par la loi de Bragg : n.λ = 2.d.sin(θ)
La diffraction des rayons X permet de mettre différentes applications en œuvre :
Identification de phases, quantification
Affinement de structure cristallographique
Mesure de texture cristallographique
Détermination de contraintes résiduelles
Cartographie de l'espace réciproque
La plupart de ces mesures peuvent être menées en T°.
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