L’application principale de la technique de diffraction des rayons X dite « de poudre » est l’identification de phases ; elle peut être mise en œuvre sur tout type d’échantillon polycristallin se présentant sous forme pulvérulente, massive ou en film mince. L’indexation des pics obtenus lors de la mesure permet de remonter à la nature du matériau analysé à travers l’examen de sa structure cristallographique. L’étude des diffractogrammes de poudre permet de mettre en œuvre d’autres méthodes comme l’affinement des paramètres de maille, la détermination de taille de cristallites, pour aller jusqu’à l’affinement de structure.
L’instrument est configurable pour des mesures en incidence rasante coplanaire spécifiques aux films minces polycristallins. Il peut également être configuré pour des mesures de réflectivité.
Configuration du diffractomètre : 
- Longueur d’onde Ka du cuivre ou du cobalt pour mesures en géométrie Bragg-Brentano
- Fentes de divergence et anti-diffusion programmables
- Spinner (réflexion) associé à un passeur automatique d’échantillons 45 positions
- Détecteur rapide 1D de type X’Celerator
- Monochromateur graphite pour Ka (Cu) associé au détecteur X’Celerator
- Miroir de Gobel pour Ka (Cu)
- Table motorisée XYZ
- Porte-capillaire pour échantillons sertis en capillaires de verre.
Equipement associé :