Diffractomètre « de poudre » BRUKER D8 Advance Série II (2009)

L’application principale de la technique de diffraction des rayons X dite « de poudre » est l’identification de phases ; elle peut être mise en œuvre sur tout type d’échantillon polycristallin se présentant sous forme pulvérulente, massive ou en film mince. L’indexation des pics obtenus lors de la mesure permet de remonter à la nature du matériau analysé à travers l’examen de sa structure cristallographique.
L’étude des diffractogrammes de poudre permet de mettre en œuvre d’autres méthodes comme l’affinement des paramètres de maille, la détermination de taille de cristallites, pour aller jusqu’à l’affinement de structure et le dosage quantitatif de phase.

L’instrument est configurable pour des mesures en incidence rasante coplanaire spécifiques aux films minces polycristallins. Il peut également être configuré pour des mesures de réflectivité.

Configuration du diffractomètre

• Géométrie BraggBrentano faisceau divergent :
  • Goniomètre 2 cercles
  • Longueur d’onde Ka1(Cu)
  • Passeur automatique d’échantillons 90 positions
  • Détecteur rapide 1D LynxEye
• Géométrie faisceau parallèle :
  • Goniomètre 2 cercles
  • Miroir parabolique 1D longueur d’onde Ka moyen(Cu)
  • Platine motorisée XYZ
  • Support aspirant pour échantillon
• Logiciels d'exploitation
  • Diffrac-Plus (Eva, Pdf Maint, Xch), Diffrac.EVA, Topas ver 4.2,
  • XRD Commander (2.6.1) pour l'acquisition des données,
  • Programmes gratuits développés au laboratoire (Celref, OrientExpress, Gretep, PoudriX, …)