Equipements du CMTC

Microscopie électronique à balayage (MEB) et microanalyse X (MEB) :

• MEB FEG ZEISS Ultra 55
• MEB FEG Environnemental FEI QUANTA 250
• Prochainement MEB FEG HR analytique (couplage EDS & EBSD + nano indenteur)
• 3 MEB conventionnels avec EDS
• Microsonde de Casting CAMECA SX50 (WDS)
• EBSD

Microscopie électronique à balayage et faisceau d'ions (FIB) :

• MEB-FIB ZEISS NVision 40 (partenariat avec les plateformes PFNC & PTA)

Essais mécaniques in-situ sous MEB :

• Platine de traction
• Prochainement : Nano indenteur

Microscopie électronique à transmission (MET)

• Prochainement : MET FEG JEOL 2100 F - 200 kV
• MET LaB6 JEOL 2010 - 200 kV

Rayons X :

• Diffractomètre X D8 Advance Bruker
• Diffractomètre X X'Pert PRO MPD PANalytical
• Diffractomètre X 5 cercles SmartLab Rigaku avec anode tournante
• Diffractomètre X D5000 Siemens (Bruker) dédié réflectométrie X
• Générateur Philips PW1730 dédié aux mesures de Laue

Spectrométrie Raman :

• Spectromètre Raman T64000

Préparation :

• polissage
• métalliseurs (PECS)
• Plasma Cleaner SOLARUS