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Plateforme technologique de caractérisation des matériaux

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FEG SEM ZEISS GeminiSEM 500

Mis à jour le 9 novembre 2016
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High resolution analytical FEG SEM*
  • EDX
  • Resolution imaging (1 nm at 1 kV)
  • system + high speed EBSD  : coupling X-ray chemical mapping and simultaneous EBSD mapping

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