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Plateforme technologique de caractérisation des matériaux

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MEB Conventionnels

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MEB JEOL JSM6400


Système de microanalyse X à sélection d'énergie (EDS) avec détecteur SDD Brucker AXS - 10mm²
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MEB LEO Stéréoscan 440


Système de microanalyse X à sélection d'énergie (EDS) avec détecteur Si(Li) EDAX - 10mm²
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MEB PHILIPS XL30


Système de microanalyse X à sélection d'énergie (EDS) avec détecteur Si(Li) PGT - 10mm²

mise à jour le 14 février 2017

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