MET FEG JEOL 2100F- 200 kV*

Spécificités de la machine

Tension d'accélération 200kV
Résolution 0.23nm
Porte-objets : simple tilt, double tilt analytique
2 cameras Gatan 2K
STEM BF/HAADF

L’analyse chimique locale en STEM BF/HAADF et EDX est possible grâce à une sonde de faible dimension (0,2 à 1,5 nm).

Détecteur EDX JEOL Centurio 1 mrad

Cartographie d’orientation ACOM - ASTAR

Particularité : Implantation d’ASTAR, dénomination commerciale de la technique d’acquisition automatique de cartographies d’orientation cristallines (ACOM – Automated Crystal Orientation Mapping).
La technique est similaire à l’EBSD utilisé sur des MEB, mais appliquée à un faisceau d’électrons (sonde <=2 nm) sur une lame mince pour le MET. Les clichés de diffraction obtenus sur une zone de quelques µm2 sont comparés à des bases de données crées par l’utilisateur pour obtenir des cartographies d’orientations et de phases.
Mise en évidence de deux phases de CdSe
(cubic en bleu, hexagonal en vert) autour
d’un nanofil de ZnO (rouge) avec ASTAR

Avantages :
- Sonde de faible dimension permettant une indexation de grains < 10 nm
- Pas sensible à la déformation du matériau et à l’oxydation de surface
- Utilisation de la précession pour améliorer la qualité d’indexation.
Inconvénient :
- Zone analysée assez faible (max 10 x10µm)

* CEMAM investment in 2013, coll. Institut Carnot "Energies du futur", Isterre-UJF, Nanomegas, SIMAP

mise à jour le 20 novembre 2020

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Plateforme technologique de caractérisation des matériaux

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