Afin de réaliser des mesures de diffraction des rayons X « in situ », sur des échantillons en cours de recuit dans des atmosphères variées, une chambre en température de type HTK1200N, de marque Anton Paar, a été associée à notre diffractomètre « de poudre » PANalytical X’Pert PRO MPD.
Caractéristiques principales
- Gamme de T° : de l’ambiante à 1200°C
- Chauffage « environnemental » qui assure une très bonne uniformité de la température au sein de l’échantillon
- Atmosphères variées : air, vide secondaire (10-4 mbar), gaz inertes (azote, argon,…)
- Spinner échantillon
- Z motorisé : ajustement automatique de la hauteur du porte-échantillon en fonction de la T° de chauffage
- Géométrie de mesure : réflexion
Equipement acquis grâce au soutien financier du Fonds Inkermann sous l’égide de la Fondation de France.
SOUTIEN
