Un microscope JEOL 2010 (installé en 2004) Il permet d'obtenir des images à haute résolution(1,9Å entre points et 1,4Å en franges de réseaux). Il permet de travailler en faisceaux convergent (CBED). Pour l'analyse des symétries structurales. Il est en outre équipé d'un système d'analyse EDS.
mise à jour le 9 septembre 2010
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