Du 27 au 30 mars 2017, le CMTC a accueilli les stagiaires de la formation "caractérisation des couches minces par rayons X : diffraction X en incidence rasante et réflectométrie X".
Cette formation, proposée en partenariat par le Département de Formation Continue de Grenoble-INP et l'INSTN-CEA, et mobilisant des intervenants des deux instituts, a accueilli 4 stagiaires pour cette session 2017.
Cette édition voyait l'arrivée d'un nouvel élément au programme avec une introduction à la diffraction en incidence rasante non coplanaire, ou encore diffraction "in-plane".
Merci à tous, stagiaires et intervenants, pour votre enthousiasme pendant cette session.
Cette formation, proposée en partenariat par le Département de Formation Continue de Grenoble-INP et l'INSTN-CEA, et mobilisant des intervenants des deux instituts, a accueilli 4 stagiaires pour cette session 2017.
Cette édition voyait l'arrivée d'un nouvel élément au programme avec une introduction à la diffraction en incidence rasante non coplanaire, ou encore diffraction "in-plane".
Merci à tous, stagiaires et intervenants, pour votre enthousiasme pendant cette session.