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Plateforme technologique de caractérisation des matériaux

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MEB au CMTC

Microscopie électronique à balayage et Microanalyse X EDS

 


Les Microscopes Électroniques à Balayage équipés d'analyseur X (E.D.S.) sont de puissants outils de caractérisation des matériaux. Ils permettent d'obtenir des images avec des informations de topographie, de composition chimique, d'orientations cristallines, de potentiels électriques, etc... Ils permettent, dans le même temps, des analyses de composition élémentaire. Les grandissements obtenus peuvent aller jusqu'à 100 000.

Dendrite dans un alliage d'Al Dendrite dans un alliage Ni-W Micrographie en électrons secondaires Micrographie en électrons rétrodiffusés
Equipements

Microscope ZEISS Ultra 55 (Canon à effet de champ - cathode Schottky) équipé d'un système EBSD (TSL) Analyseur X à venir


Microscope JEOL JSM 6400 (Filament de tungstène) équipé d'un analyseur X numérique à diode Germanium (PGT)


Microscope LEO S440 (Filament de tungstène) équipé d'un analyseur X numérique à diode Silicium-Lithium (EDAX)


Microscope Philips XL30 (Filament de tungstène) équipé d'un analyseur X numérique à diode Silicium-Lithium (PGT)




Une machine de traction « in situ » développée au CMTC.

Le CMTC dispose également de :

* Un ensemble de métallisation comprenant deux pulvérisateurs cathodiques Or et trois métalliseurs Carbone.

* Une binoculaire Nikon équipée d'un ensemble de photographie numérique couleur (Nikon Coolpix 950), d'une caméra analogique et du logiciel AnalySISTM.

mise à jour le 9 novembre 2010

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Frédéric Charlot

  • Site Minatec

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38402 Saint-Martin-d'Hères Cedex
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Univ. Grenoble Alpes