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Plateforme technologique de caractérisation des matériaux

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La Diffraction au CMTC

DIFFRACTION X - REFLECTOMETRIE X

 


Les principales activités du service de Diffraction des rayons X sont :

 - L'identification de phases sur matériaux polycristallins massifs, poudres,
   revêtements et couches minces, à la température ambiante, sous atmosphère contrôlée et/ou en température.
 - la détermination de taille de cristallites
 - l'étude des textures cristallographiques
 - la détermination de "contraintes résiduelles"
 - l'orientation de monocristaux
Equipements

Diffractomètre SIEMENS D500 goniomètre theta/2theta, anode Cu Lambda= 1.5406 Å, monochromateur avant Germanium courbe, température ambiante, passeur automatique d'échantillons (40 postes).


Diffractomètre PanAlytical X'Pert Pro MPD goniomètre theta/theta, anode Cu Lambda= 1.5418 Å ou Co Lambda=1.7902, Poudre, Incidence rasante, Reflectometrie, Mode transmission sur capillaires, température ambiante, passeur automatique d'échantillons (45 postes).


Diffractomètre SIEMENS D500 goniomètre theta/2theta, anode Fer Lambda = 1.9373 Å, monochromateur arrière Graphite courbe, montage possible en incidence rasante.



Diffractomètre SIEMENS D500 goniomètre theta/theta, anode Cu Lambda = 1.5418 Å, monochromateur arrière Graphite courbe,installation possible d'une Chambre Anton PAAR TTK sous gaz, à température variable de l'ambiante à 300°C.


Diffractomètre SIEMENS D500 goniomètre theta/2theta, anode Cu Lambda = 1.5418 Å, monochromateur arrière Graphite courbe, chambre basse température (T° > à 20 K).


Diffractomètre INEL XRG2500 anode Fer Lambda = 1.93604 Å, monochromateur avant Germanium plan, acquisition rapide avec compteur CPS 120, installation possible d'une haute température (1000°C) développée au LMGP.


Diffractomètre SIEMENS D5000 goniomètre 4 cercles, anode Cu, monochromateur arrière Graphite courbe avec détecteur ponctuel ou linéaire Elphyse,études de textures cristallographiques et de "contraintes résiduelles".


Banc de LAUE générateur Philips PW1730, montage en réflexion ou transmission, géométrie adaptée pour l'orientation de monocristaux.


Diffractomètre SIEMENS D5000 goniomètre theta/2 theta, anode Cu Lambda = 1.5418 Å, accessoire de réflectométrie.


Logiciels d'exploitation

DiffracPlus (Eva) et X'Pert High score : logiciel d'exploitation et de traitement de données - Recherche de phases
BASES de DONNEES : fichiers ICDD actualisés
CARINE V3 : logiciel de cristallographie et de diffraction des rayons X
ORIENT-EXPRESS : logiciel de simulation d'un diagramme de LAÜE
CellRef : affinement de paramètres de maille
RIETVELD : structure cristallographique sur poudre
STRESS : acquisition et traitement des données pour la détermination des "contraintes résiduelles"
TEX : acquisition et exploitation de figures de pôles
REF-SIM et X'Pert reflectivity : logiciel de réflectométrie X

Programmes gratuits développés au LMGP (Celref, Orientexpress, Gretep, PoudriX, ...)


Nos activitées sur minatec






mise à jour le 9 novembre 2010

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Univ. Grenoble Alpes