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Plateforme technologique de caractérisation des matériaux

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MET Jeol 2100 F- 200 kV FEG

Mis à jour le 25 mars 2014
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MET Jeol 2100 F- 200 kV FEG*
  • Conventional TEM 
  • HRTEM (resolution 0.23 nm)
  • Z contrast imaging (resolution 0.2 nm)
  • EDX chemical analysis and mapping
  • ASTAR - Automatic phase and orientation mapping
  • Development : coupling chemical mapping and ASTAR mapping for phase identification









* CEMAM investment in 2013, coll. Institut Carnot "Energies du futur", Isterre-UJF, Nanomegas, SIMAP


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Rédigé par Arnaud Robin

mise à jour le 25 mars 2014

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