Aller au menu Aller au contenu
Grenoble INP
Recherche - Formation - Valorisation

Plateforme technologique de caractérisation des matériaux

Recherche - Formation - Valorisation

MEB FEG ZEISS Ultra 55


Microscope électronique à balayage à haute résolution

Spécificité de la machine
  • CMTC-Ultra55Canon à effet de champ (FEG) de type Schottky
  • Mode haut vide.
  • Tension d’accélération : 100 V à 30 kV
  • Résolution en électrons secondaires :
    • 1 nm à 15 kV
    • 1,7 nm à 1 kV

Imagerie
  • en électrons secondaires (In-Lens / Everhart-Thornley )
  • en électrons rétrodiffusés (EsB / QBSD)
  • en électrons transmis (STEM)

Équipements
  • Système de microanalyse X à sélection d'énergie (EDS) avec un détecteur SDD (BRUKER AXS-30mm²)
  • Système d'analyse EBSD avec caméra CCD numérique (EDAX HIKARI PRO) et logiciel OIM

Rédigé par Frederic Charlot

mise à jour le 14 février 2017

Nous écrire

Communauté Université Grenoble Alpes
×
Afin d'améliorer la qualité de ce site et le service rendu à l'utilisateur, nous utilisons des cookies de mesure d’audience. En poursuivant votre navigation sur ce site, vous acceptez l'utilisation de cookies à cette fin. Pour en savoir plus